卓上走査電子顕微鏡
日本電子株式会社製 型番:JCM-6000
概要
チェーンや金具などの破損原因を調査するために使用します。目視やルーペで観察し導き出したマクロ破面解析での推測を、ナノメートル単位で観察できる走査電子顕微鏡を用いてミクロ破面観察し立証していきます。
また、EDS(エネルギー分散型X線分光法)により試料に含まれる元素の種類と含有率等を調べることも可能です。
特徴
- ・破面解析
- ・EDSによる元素分析
実施例
- ・疲労破面
- ・延性破面
- EDSによる元素分析
- 疲労破面(ストライエーション)
- 延性破面(ディンプル)
- 延性破面(リバーパターン)